In diesem Seminar geht es um fortgeschrittene Methoden der Patentrecherche und der Patentüberwachung. Ziel ist es, Patentklassifikationssysteme effektiv einzusetzen, Patentfamilien gezielt zu nutzen und moderne, KI-basierte Werkzeuge in die Recherchepraxis zu integrieren. Die Teilnehmenden vertiefen hierzu ihre Kenntnisse der Internationalen Patentklassifikation (IPC) und lernen die Gemeinsame Patentklassifikation (CPC) sowie Prüferklassifikation (DEKLA) kennen. In einer Live-Demonstration von KI-gestützten Recherchen erfahren die Teilnehmenden, wie künstliche Intelligenz ihnen bei der täglichen Arbeit behilflich sein kann und auf was man beim Einsatz von KI-Tools achten sollte. Praxisnahe Übungen in DEPATISnet und Espacenet vermitteln die Patentfamiliensuche. So lassen sich anwendungsorientierte Überwachungsrecherchen entwickeln. Gemeinsame Übungen und Pausen bieten zudem Gelegenheit zum fachlichen Austausch und zur Vernetzung mit anderen Teilnehmenden.

Zielgruppe:

Die Veranstaltung richtet sich an Mitarbeitende kleiner und mittlerer Unternehmen (KMU), an neue Beschäftigte in Patent-, Forschungs- oder Entwicklungsabteilungen oder Beschäftigte im Bereich Technologietransfer, die bereits fundierte Grundkenntnisse besitzen und sich in den Bereichen Klassifikation, Patentfamilienanalyse, Überwachungsrecherchen und KI-gestützte Suchmethoden weiterentwickeln möchten. Dieses Seminar bietet sich als Aufbauseminar zu den Veranstaltungen „Patentrecherche leicht gemacht 1: Die Grundlagen der Patentrecherche“ und „Patentrecherche leicht gemacht 2: Mit der richtigen Strategie zum Ziel“ an

Ziel der Veranstaltung:

Nach Abschluss dieses Seminar beherrschen die Teilnehmenden den sicheren Umgang mit internationalen Klassifikationssystemen, können Patentfamilien gezielt analysieren und Monitoringstrategien eigenständig aufbauen. Sie verstehen, wie KI-Werkzeuge die Recherchepraxis unterstützen und effizienter gestalten können und auf was man beim Einsatz achten sollte.

Programm:

• Patentklassifikation:
• Klassifikationssysteme IPC+ Konkordanz
  • DEKLA (Prüferklassifikation)
  • CPC
  • KI-gestützte Klassifikationssuche mit dem CPC Text Categoriser
• Demonstration von KI-gestützten Recherchen
• Patentüberwachung und -monitoring
• Patentfamiliensuche in DEPATISnet und Espacenet
• Austausch und Vernetzung